FISCHERSCOPE® XDL® X射线荧光测试仪，可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件。

XDL镀层厚度测量仪特点

• 坚固耐用的镀层厚度测量设备，甚至可在较大的距离测量（DCM功能，范围0-80 mm）工作
• 固定光圈和固定滤光镜
• 用于1mm起大小的测量点
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 可编程的台式设备，用于自动测量
• 标准X射线管，比例计数器 

XDL镀层厚度测量仪典型应用领域

• 测量大规模生产的电镀零件
• 防腐镀层和装饰性镀层，如镍/铜上的铬。铬层测厚、铜厚测量
• 电镀工业中电镀液的分析
• 黄金、珠宝和钟表工业

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® X射线荧光测试仪，可在微小样品上，手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度。包括镍层测厚、化镍厚度等。

XDLM镀层厚度测量仪特点

• 通用性极广，因为配备了微聚焦管、4个可切换准直器和 3 个基本滤片
• 适用于微小结构，如接插件或线路板
• 还适用于远距离测量（DCM方法，范围0-80 mm）
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 可编程的台式设备，用于自动测量 

XDLM镀层厚度测量仪典型应用领域

•  测量印刷线路板工业中，薄金、钯和镍镀层。
• 测量接插件镀层和触点镀层。
• 在电子和半导体行业中测量功能性镀层。
• 黄金、珠宝和钟表工业。

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